8720C矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀簡單介紹 ★頻率范圍：50MHz到20GHz★有快速掃描的內(nèi)置合成信號源★集成化的轉(zhuǎn)換S參數(shù)測試裝置★矢量接收機、誤差修正、時域功能★從外部磁盤驅(qū)動器直接儲存/調(diào)用★達(dá)103dB動態(tài)范圍 20GHz網(wǎng)絡(luò)分析儀的詳細(xì)介紹 HP8720C網(wǎng)絡(luò)分析儀 HP8720C矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀表征頻率范圍從50MHz到20GHz內(nèi)的RF/微波元件特性。HP8720C網(wǎng)絡(luò)分析儀包括一個快速掃頻源、S參數(shù)測試裝置、調(diào)諧接收機和大的彩色顯示。這種集成化設(shè)計使得HP8720C小型、經(jīng)濟和方便使用。HP8720C對于研究開發(fā)、生產(chǎn)制造、產(chǎn)品入庫檢驗或質(zhì)量保證機構(gòu)中有成本和時間意識的工程師來說，是一理想的選擇。 性能優(yōu)良且價格合理的分析儀 HP8720C網(wǎng)絡(luò)分析儀除價格能被接受外，其性能亦引人注目。集成信號源是全合成化的信號源，即使在掃描時，其穩(wěn)定度和精度也處在10ppm范圍(典型值)。另外，掃描速度極快。典型情況下，測量的更新時間約為每個測量點1ms，頻率分辨率標(biāo)準(zhǔn)為100kHz，選件001提供1Hz的分辨率，對窄帶或長延遲器件提供精確的測量。具有可變帶寬IF濾波器的調(diào)諧接收機提供達(dá)103dB的動態(tài)范圍。內(nèi)置轉(zhuǎn)換測試裝置用一次連接即可測量所有4個S參數(shù)(正向和反向)。 兩個獨立的通道可同時顯示兩種測量結(jié)果，如反射和傳輸響應(yīng)。接收機對幅度和相位兩者進行檢測，并以多種實用的格式顯示測量結(jié)果，包括在直角坐標(biāo)、極坐標(biāo)或史密斯圓圖上顯示群延遲、與線性相位的偏離、復(fù)阻抗和SWR。 內(nèi)置的矢量精度增強措施對所有通用同軸連接器提供優(yōu)良的誤差修正精度。用戶配件能提供由用戶定義的標(biāo)準(zhǔn)件，允許進行波導(dǎo)校準(zhǔn)(包括色散效應(yīng))。從簡單響應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)到全雙端誤差修正中選擇。或者使用TRL來測量夾具上的非同軸器件(微帶)。 測量有源器件的強有力的功能 HP8720C在其測量端口上有+10dBm的功率，有足夠的功率用于對放大器進行測試。對于一些靈敏的小信號器件，內(nèi)置步進衰減器可以將功率減小到-65dBm。利用功率計的校準(zhǔn)功能，絕對功率電平可以在系統(tǒng)的任何地方進行精確調(diào)節(jié)。功率掃描功能和0.1dB的功率分辨率簡化了對有源器件的增益-壓縮特性的測試。此外，有2個內(nèi)部的T型通過測試端口用于偏置晶體管。 分析安裝在夾具中和晶片上的器件特性 利用TRL*校準(zhǔn)將夾具誤差減至最小，以便對非同軸器件(如微帶)進行測量。也可以將網(wǎng)絡(luò)分析儀與晶片探測臺相結(jié)合，以便能在晶片上直接測量器件。電子端口延伸和選通也可用來提高精度。 時域和故障定位 用時域功能（選件010）對被測件（DUT）的響應(yīng)隨時間或距離（而不是頻率）的變化進行計算和顯示。還可利用時域來查找并定量表示一個網(wǎng)絡(luò)中個別故障或不連續(xù)點的位置。應(yīng)用選通功能來消除不希望的反射的影響（及時分離），然后觀察DUT的真實響應(yīng)隨頻率變化的情況。 8720C主要技術(shù)指標(biāo) 具有可選1 Hz頻率分辨率的快速掃描內(nèi)置合成信號源 開關(guān)綜合測試儀通過單一連接測量全部四個S參數(shù) 提高矢量精度 可選時域功能能夠計算并顯示響應(yīng)隨時間或距離的變化 可選固態(tài)開關(guān)支持同時測量正向和逆向參數(shù)，并根據(jù)兩部分誤差修正的需要持續(xù)更新全部四個S參數(shù) 合格/不合格測試、打印機/繪圖儀直接輸出結(jié)果、高級標(biāo)記功能以及保存/調(diào)用測試配置等特性可顯著提高生產(chǎn)效率 兩個獨立的顯示通道，用于同時測量反射和發(fā)射特征[本信息來自于今日推薦網(wǎng)]