蔡司掃描電鏡Sigma系列

　　用于高質量成像和高級分析顯微鏡的 FE-SEM

　　蔡司掃描電鏡Sigma 系列將場發射掃描電子顯微鏡 (FE-SEM) 技術與出色的用戶體驗相結合。構建您的成像和分析程序并提高工作效率。研究新材料、用于質量檢驗的顆粒或生物或地質標本。在高分辨率成像方面毫不妥協——轉向低電壓并在 1 kV 或更低電壓下受益于增強的分辨率和對比度。使用一流的 EDS 幾何結構執行高級分析顯微鏡，并以兩倍的速度和更高的精度獲得分析數據。

　　使用 Sigma 系列，您將進入高端納米分析的世界。

　　Sigma 360 是核心成像設備的選擇——用于成像和分析的直觀 FE-SEM。

　　Sigma 560 使用一流的 EDS 幾何結構來提供高通量分析并實現自動化原位實驗。

　　Sigma 360

　　核心設施的選擇。直觀的采集。

　　從設置到基于 AI 的結果得到專業指導。探索直觀的成像工作流程。

　　查看 1 kV 及以下的差異。實現增強的分辨率和優化的對比度。

　　在極端情況下執行 VP 成像，以在非導體上獲得出色的結果。

　　直觀的成像工作流程指導您

　　從設置到基于 AI 的結果即使您是新手，也能獲得專業的結果。易于使用、易于學習的工作流程讓您受益于快速成像并節省培訓時間，讓您簡化從導航到后處理的每個步驟。

　　ZEISS SmartSEM Touch 中的軟件自動化讓您從導航、參數設置和圖像采集開始。

　　然后 ZEN core 發揮作用：它帶有特定于任務的工具包，最適合后處理。最推薦的是： AI Toolkit 可讓您根據機器學習分割圖像。將多模式實驗與 Connect Toolkit 相結合。或者使用材料應用程序分析微觀結構、晶粒尺寸或層厚。