數(shù)字芯片后端設計綜述，內容包括芯片設計和生產的典型流程，后端設計的基本環(huán)節(jié), 設計任務，以及介紹如何做好后端設計。

       靜態(tài)時序分析，內容包括電路設計當中靜態(tài)時序分析的原理和特點。學習如何在后端設計中使用PrimeTime定義時鐘、確定輸入輸出的延遲、處理電路中的例外情況、復雜設計分析的原則和方法，及其在后端設計中的具體應用；

       測試設計，內容包含數(shù)字芯片設計中常見的測試任務及其相應的解決方案。學習使用DFT Compiler進行RTL/門級的DRC檢查和異常處理，掃描鏈的規(guī)劃和插入，測試協(xié)議的生成和使用Tetramax產生/驗證掃描測試向量。此外，課程還包含使用MBISTArchitect插入內存的測試電路，以及常用硬核的系統(tǒng)級測試設計。

       邊界掃描設計，內容包含邊界掃描的原理和工程實現(xiàn)。學習如何使用BSDArchitect插入邊界掃描電路，生成測試向量和通過邊界掃描電路實現(xiàn)芯片的掃描測試、內存測試和硬核測試。

       形式驗證，內容包含形式驗證的原理及其在后端設計中的應用。學習網表的預處理，F(xiàn)ormality的設置和不匹配點的分析與跟蹤。

       布局布線，內容包含封裝的選擇，芯片功耗和芯片電源電壓降分析，布局布線的任務和流程。學習如何使用SoC Encounter進行版圖規(guī)劃、模塊級元件布局和布線、時鐘樹的綜合、DRC檢查和異常處理、時序分析和常用處理方法，以及GDS文件生成。